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X荧光膜厚仪

更新时间:2024-10-12 16:17:08 编号:d625h7c77cb5f4
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刘经理

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江苏镀层测厚仪,X荧光电镀层测厚仪,镀镍层膜厚仪,金镍厚度分析仪
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X荧光膜厚仪

被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,成为电子,这时原子被激发了,处于激发态。此时,其他的外层电子便会填补这一空位,即所谓的跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量或厚度。



电镀层镀层测厚仪它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数几十秒,即可分析出各金属镀层的厚度;分析测量动态范围宽,可从0.005μm到50μm。电镀镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点,广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。



镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。 镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

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详细资料

主营行业:测厚仪
公司主营:镀金测厚仪,rohs检测仪,镀银测厚仪,X荧光膜厚仪
主营地区:江苏
企业类型:股份有限公司
注册资金:人民币49551万
公司成立时间:2006-07-04
员工人数:501 - 1000 人
研发部门人数:101 - 200 人
经营模式:生产型
最近年检时间:2024年
经营范围:制造:原子荧光光谱仪、气相色谱仪、原子吸收分光光度计。研究、开发、生产、销售、技术服务:化学分析仪器、环境检测仪器、生命科学仪器、测量与控制仪器、医疗器械;研究
是否提供OEM:
公司邮编:215300
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